產品描述
LGA50光學器件分析系統具有功能齊全、性價比高等特點，可實現光器件、光模塊等光學鏈路全范圍插損、回損、長度的精確測量。長度測量范圍為50m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm，適用于定量分析、品質監測及故障診斷。
產品特點
空間分辨率：20μm
測量長度：50m
中心波長：1310nm/1550nm
插損、回損分析
產品應用
無源器件插損、回損測量
硅光芯片插損、回損測量
平面波導器件測試
光學鏈路分析、診斷
產品參數
類別 | 指標 | 單位 | |
測量長度1 | 50 | m | |
空間分辨率2 | 20 | μm | |
中心波長3 | 1310/1550 | nm | |
波長精度 | 1.0 | pm | |
回損動態范圍 | 70 | dB | |
回損測量范圍 | -130~0 | dB | |
回損靈敏度 | -130 | dB | |
回損測量精度 | ±0.5 | dB | |
回損分辨率 | ±0.05 | dB | |
插損動態范圍4 | 15 | dB | |
插損測量精度 | ±0.2 | dB | |
測量時間 | ＜8 | s | |
輸入電壓 | AC 220/110V; DC 12V | - | |
主機功率 | 60 | W | |
通訊接口 | USB | - | |
光纖接口 | FC/APC | - | |
尺寸 | W345*D390*H165 | mm | |
重量 | 7.5 | kg | |
儲存溫度 | 0~50 | ℃ | |
工作溫度 | 10~40 | ℃ | |
儲存與工作濕度 | 10~70 | %RH | |
選配功能5 | |||
采集頻率 | 5Hz@(20m,42nm) | 15Hz@(20m,10nm) | - |
備注：
LGA50測量長度為50m ，后續支持升級至100m；
空間分辨率為20μm，后續支持升級至10μm；
插損動態范圍是指標準單模光纖其散射水平被本底噪聲淹沒之前的最大來回損耗；
擴展功能為升級模塊，需要單獨購買。
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